高壓開(kāi)關(guān)接觸電阻是指電流流過(guò)高壓開(kāi)關(guān)設(shè)備（如斷路器、隔離開(kāi)關(guān)）的動(dòng)觸頭和靜觸頭接觸面時(shí)，所產(chǎn)生的電阻。它不是導(dǎo)線本身的電阻，而是發(fā)生在兩個(gè)導(dǎo)電部件結(jié)合界面上的額外電阻。雖然它的數(shù)值通常極小（微歐姆或幾十微歐姆級(jí)），但在高電流的電力系統(tǒng)中，它卻是影響設(shè)備安全和穩(wěn)定性的“隱形殺手”。

這個(gè)微小的接觸電阻主要由兩部分構(gòu)成：一是收縮電阻。即使觸頭表面看起來(lái)光滑，但在微觀層面仍是凹凸不平的，電流只能通過(guò)實(shí)際接觸的微小點(diǎn)流過(guò)。電流線在流向這些微小通道時(shí)急劇收縮，增加了電阻。二是表面膜電阻。由于金屬表面會(huì)不可避免地形成氧化膜、硫化層或吸附灰塵、油污等絕緣或半絕緣的薄膜，電流必須穿透這些膜層才能導(dǎo)電，從而產(chǎn)生額外的阻力。

接觸電阻是高壓開(kāi)關(guān)局部發(fā)熱的直接根源。根據(jù)焦耳定律 $P = I^2R$，當(dāng)高電流（$I$）通過(guò)哪怕只有輕微增大的接觸電阻（$R$）時(shí)，都會(huì)產(chǎn)生巨大的熱量（$P$）。這種持續(xù)的高溫會(huì)加速觸頭金屬的氧化和老化，使接觸電阻進(jìn)一步增大，陷入惡性循環(huán)。最終的結(jié)果是：觸頭熔焊、絕緣材料加速老化、設(shè)備外殼變形，嚴(yán)重時(shí)可能導(dǎo)致開(kāi)關(guān)拒動(dòng)、短路或爆炸等惡性事故。

因此，對(duì)高壓開(kāi)關(guān)進(jìn)行定期的回路電阻測(cè)試至關(guān)重要。通過(guò)向開(kāi)關(guān)回路注入大電流（如 100A、200A 或更高），并使用專業(yè)的四端子法測(cè)量觸頭間的微小電壓降，可以精確計(jì)算出接觸電阻值。如果測(cè)量值超過(guò)出廠值或規(guī)程允許范圍（通常為 1.2 倍），則表明觸頭接觸狀況惡化，必須及時(shí)進(jìn)行檢修和處理，以消除潛在的安全隱患，確保電網(wǎng)可靠運(yùn)行。